我有一个包含一系列物理测试结果的数据集。它有大约十几个特征，每个测试的结果由 3 个不同的类来区分。

数据集包括以下特征：[X, Y, Z, temperature, input voltage] 据我所知，这些都是自变量。

然后我有一个测试结果列[failure, success, other]

我有多个来自不同设备测试的数据集。

我试图弄清楚我是否可以使用来自一个设备的数据来预测任何其他设备的结果。如果可以的话，我想用某种方法来衡量它们的相关程度，以及哪些变量对预测的贡献最大。