我反复读到不能使用 F 检验来比较两个未嵌套的模型。通常我必须嵌套模型 检验统计量通常看起来像 其中和分别是受限模型和 ful 模型的残差平方和。是样本数,X 中的变量和 Z 中的变量。
但是,我不明白为什么我不能使用任何两个模型 和的残差平方和来计算 假设 wlog
很高兴听到您对此的想法!提前致谢
我反复读到不能使用 F 检验来比较两个未嵌套的模型。通常我必须嵌套模型 检验统计量通常看起来像 其中和分别是受限模型和 ful 模型的残差平方和。是样本数,X 中的变量和 Z 中的变量。
但是,我不明白为什么我不能使用任何两个模型 和的残差平方和来计算 假设 wlog
很高兴听到您对此的想法!提前致谢
使用嵌套模型,可以构想饱和模型。这为似然性和参数空间提供了理论上限。当你有了这个,你就知道对数似然比的长期行为是一个随机变量。这是进行形式推理所必需的。统计量是正态分布变量的精确检验的实际分布,但随着分母自由度趋于无穷大收敛到
使用非嵌套模型,可能具有任意高和低可能性。那么就无法保证统计数据的长期行为。这意味着某些场景会给您带来非常高的假阴性、非常高的假阳性概率,或者两者兼而有之,而无法校准测试。
您可以使用 AIC 或 BIC 定性地比较非嵌套模型。但是你不能对它们的相对影响做出正式的推断,你只需要说,“Model Y 的 IC 比 Model X 更高/更低”。