采样率与 ADC 噪声权衡

信息处理 噪音 采样
2021-12-24 08:06:55

我有一个数字传感器,可以输出两个频率(250Hz、1000Hz),但具有不同的 RMS AWGN 噪声(分别为 0.35 单位 RMS、0.5 单位 RMS)。感兴趣的信号具有单个频率<125Hz(即在任一采样模式下都满足奈奎斯特),我试图确定其幅度,并且窗函数具有固定的持续时间(即,1000Hz 模式的采样数增加 4 倍)。哪种采样率/RMS 噪声模式产生更好的 SNR?

我知道有两种相关现象:

  1. 如果所产生的频谱增加大部分是带通的,则过采样可以减少量化噪声(请参阅具有更高信号采样率的优势是什么?

  2. 对于固定的 RMS AWGN 噪声,较高的频率意味着所有频率的 PSD 较低,因此在感兴趣的频率上的噪声功率也较低。

我还缺少其他注意事项吗?

我猜想采样率增加 4 倍而 RMS 噪声仅增加 43% 会提供更好的 SNR,但我不确定如何量化这一点。


编辑:为了进一步澄清,假设样本只是“出现”在我的 DSP 中,我无法向传感器的 ADC/量化器提供反馈。(这是因为传感器测量的是无线信号,我不确定如何在本地正确模拟。)此外,即使量化噪声可能是“非白色”的,因为感兴趣的信号是周期性的并且幅度相对较低对于量化间隔,为了简单起见,我们假设它是白色的。然后,我只是要求将采样率和 RMS 噪声与 SNR 相关联的方程式。

我相信 AWGN 噪声差异可以解释为:,这意味着 SNR 1000Hz 模式的 1.96x 或 dB 更好。这是因为矩形窗 AWGN 信号的方差为(此处未证明)。SNR1000Hz=(.35.5)2(1000250)SNR250Hz10log10(1.96)2.92noiseRMS2n

仍然需要考虑量化噪声差异(如果有的话)。

1个回答

理论上,具有 n 阶噪声整形反馈的 4 倍过采样量化器能够为您提供等效的比特节省(对于关键采样信号的直接量化),对于 n=0,1 比特,对于 n=1,2.2 比特, n=2 时为 2.9 位,n=3 时为 3.5 位(此列表更进一步,但实际上由于潜在的不稳定性,高阶噪声整形反馈难以实现)请注意,量化噪声(或采样前存在的模拟噪声)的频谱形状是实现这些收益的重要因素。(表格摘自第 4 章,第 4.9.2 节,离散时间信号处理 2e,A.Oppenheim)

这个事实的数学阐述有点长,但你可以在许多 DSP 书籍中找到它们,其中包括对采样和 ADC 策略的深入讨论......

粗略地说,将 awgn 噪声功率加倍将产生 3dB SNR 损耗,这相当于线性均匀 ADC 的损耗小于 1 位。因此,您可以期望反馈阶数为 n=1 或更高的 SNR 增益。

然而,问题是您是否可以以实际方便的方式将该传感器嵌入到噪声整形量化环路中?如果可以,那么肯定会选择 4X 过采样案例。如果您的项目资源有限,以至于您无法承受这种额外的 DSP 成本,那么请保持 1X 费率。