触摸屏具有发射 (Tx) 和接收 (Rx) 电极，这些电极用透明的氧化铟锡 (ITO) 绘制，形成交叉迹线矩阵，每个 Tx-Rx 结都具有特征电容。人的手指基本上是改变 RX 和 TX 电极之间互电容的接地。该网络对电荷变化（即电容变化）非常敏感。

典型的充电器使用反激电路拓扑。它们产生的干扰波形很复杂，并且在充电器之间变化很大，具体取决于电路细节和输出电压控制策略。干扰幅度变化很大，具体取决于制造商分配给开关变压器屏蔽的设计工作量和单位成本。

使这种干扰难以过滤的典型 EMI 参数包括：

• 波形复杂，由脉宽调制方波和 LC 振铃组成
• 额定负载下的频率为 40–150 kHz，脉冲频率或跳跃循环操作在非常轻负载时将频率降至 < 2 kHz
• 电压电平高达输入峰值电压的二分之一 = Vrms / sqrt(2)

这些干扰电压从触摸屏设备内部和外部的源电容耦合。这些干扰电压会导致触摸屏内的电荷移动，这可能与由于手指触摸屏幕而测得的电荷移动相混淆。

这种形式的 EMI 有许多耦合路径，可能会破坏 TX/RX 电极电容测量：内部（设备中的屏蔽不良）、外部寄生（手指设备引入闭合接地回路等）。设计不良的充电器或屏蔽不良的设备（或两者兼有）可能会出现触摸屏问题。