ESD保护到底有多必要?

电器工程 CMOS 保护 静电放电 电视
2022-01-15 04:32:05

我不是在问制造业。我问的是如何设计电子产品以使其在现场正常使用。我想弄清楚在我的设计中包含 TVS 二极管的必要性。

正如我在上一个问题中提到的,在 80 年代和 90 年代很少有人打扰在 I/O 线路上包含任何 ESD 保护。这些设备似乎还可以生存。

我想这将取决于 I/O 线连接到哪种类型的 IC。80、90年代一般是NMOS VLSI、早期的CMOS VLSI、CMOS和TTL门。

现代 5V MCU 是否比 74HC 门更脆弱,需要在 I/O 引脚上包含 TVS 二极管?

连接器的类型是否决定了所需的 ESD 保护程度?我可以看到一个母 D-sub 连接器在没有任何 ESD 保护的情况下相当安全 - 除非电缆本身已充电。

如果我确实需要 TVS 二极管,那么我还需要串联电阻吗?我查看了合适的 5V TVS 的数据表,它指定分流 20 安培 ESD 尖峰时的最大压降为 24V。如果我将 TVS 直接连接到 I/O 引脚,IC 内部的 ESD 二极管将导通。24V 远大于 0.3V ESD 二极管压降。

我可以在 TVS 和 I/O 引脚之间放置一个 33 欧姆的串联电阻。这将通过内部 ESD 二极管的电流限制为小于 1 安培,它可能能够承受。但真的有必要吗?我有很多 I/O 引脚,我宁愿避免使用电阻器。我可以依靠具有足够高动态电阻的 ESD 二极管,TVS 将承担大部分放电吗?

示意图

模拟此电路- 使用CircuitLab创建的原理图

4个回答

我在你的问题中至少计算了五个问题。我会尽量只回答几个。

首先,设备的 OEM 可以针对不同的环境和其他操作条件指定多个级别的 ESD 事件,所有这些都归类在 IEC 61000-4-2 标准中。

那么是的,连接器设计确实对电子设备的故障率起着重要作用。如果连接器具有正确布线的屏蔽层,并且信号引脚凹入内部,则信号暴露于直接 ESD 事件的可能性要小得多,因此它们可能需要较低级别的 ESD 保护。

其次,TVS 二极管即使有 20-25 V 的限幅电压也确实有帮助。这仍然远低于正常人体事件的 4 kV 放电,因此通过内部保护更容易处理。

是的,在 80 年代,晶体管的硅元件的特征尺寸为 2000 nm,而今天它要小得多,只有 1/100,这使得它们更容易受到相同的 ESD 能量的影响。不,没有现代“5V”MCU,现代MCU是“1V”MCU。“5V 耐受 MCU”是过去的爆炸。可能有“5V”耐受 MCU,但要么它们的功能不符合现代物联网需求,要么你需要为它们支付额外费用。

其余的问题都是无关紧要的细节。

简而言之,您可能希望您的产品能够在消费者或工业环境中生存,并且不想处理产品更换和相关成本以及面临倒闭的风险。您需要决定,您的业务是否对您有必要?如果是,您无需提问,而是更好地利用所有积累的工程智慧来保护您的设计免受 ESD 影响。

稳健性是您做出的设计选择。

你是比较小的 PIC/74HC 和树莓派中的 SOC 还是

PIC 或其他小型 5V 微型或 74HC 逻辑: - 管脚数量少 - 宽金属轨道有足够的空间 - 支持 50mA 的大电流管脚 = 大 FET 面积 - 真正的 CMOS 保护电路 - 仅通过二极管压降将静态负载卸载到电源 -大焊盘 + 大晶体管 = 大保护二极管 = 大故障电流 - 使用的基本 CMOS 工艺将是 3.3 或 5V

SOC / super-micro/fpga - Bazillion pin 之字形焊盘,在它们之间穿线的精细金属化 - 小 fet,低电流能力。必须像这样,因为它有这么多引脚 - ?V 容差输入 - 由齐纳电路保护:静电在保护二极管本身中消散,不会卸载到电源轨 - 微小的焊盘和 fet = 微小的保护结构 = 微小的故障能量. - 低压基本过程1.5V -2.5V

示意图

模拟此电路- 使用CircuitLab创建的原理图

总而言之:

高科技部件:在 1/10 的焊盘/晶体管/金属化区域中耗散 7 倍,在 CMOS 工艺中,电压敏感度提高 2 倍 = 鲁棒性降低 140 倍。[当酒吧关门时,停车场开始火力全开]

是的,保护的需要有很大的不同。但是健壮性有很大差异,应该是经过深思熟虑的选择。

  • 法拉第发现电离弧的电阻与电流密度成反比。我在麦克斯韦的《关于电和磁 的论文》一书中读到了这个 eBook.pdf

ESD保护并非微不足道。因此,尽可能多地学习并遵循最佳实践。

因此,人体模型 (HMB) 100pF 和 Cart 模型 300pF 的阻抗在放电事件中具有显着不同的阻抗,这不仅是因为 C,而且由于未说明的界面电流密度,实际上取决于 E 场在接触点。光滑的表面具有比尖锐点高约 3 倍的电介质绝缘击穿,因此由于间隙可以更小,电流的扩散效应更小,电流更高,密度更高,上升时间更快,因此带宽更高。(RC=T=0.35/f)。大型充油变压器的电介质放电可能超过 >>10GHz,还包括光谱。

因此 ESD 电流是可变的,但测试模型的源能量是固定的,由 C 和 V 定义,但功率水平取决于脉冲持续时间的缩短程度。

我们还知道二极管电容与二极管的功率容量和 ESR 成反比。由于结构上的差异,我们知道 TVS 具有最佳的齐纳特性(品质因数 (FOM),具有两级 ESR*C=T 的微型肖特基二极管仍然是 CMOS 内部保护在最大速度和最大速度之间进行权衡的最佳解决方案)最大保护。毕竟所有二极管的响应速度必须比 CMOS 闩锁快以保护它们,但尺寸因此将这些二极管限制为 5 到 10mA 最大直流电流,绝对最大直流功耗。

那么,两个阶段如何更好,并且为了获得更大的保护,添加 TVS 可以改善这一点?

直觉和简单的传递函数告诉我们,任何施加电压的大串联/并联阻抗比可能比具有低串联阻抗的衰减更大。

示意图

模拟此电路- 使用CircuitLab创建的原理图

建议

如果您想使用串联 R 或铁氧体磁珠显着改善保护,只要这不会降低您所需的 L/R 或 1/RC = 0.35/f 带宽。一个小珠子类似于 100pF 分流器,但它会提高上升时间,以使分流二极管的响应速度快于输入上升时间。

我没有足够的时间专注于最近的研究并将其提炼成一页,但随着 CMOS 光刻技术的不断缩小,正在进行研究。

• 为65-nm ESD 保护开发了新的二极管串结构。• 在极快 ESD 脉冲 REF下,钳位电压降低 30%,过冲电压降低 15%

在此处输入图像描述

通过使用成本较低的二极管(如 BAT54S)连接到信号线,您可以避免为每条 I/O 线重复使用许多 TVS 二极管。上部二极管的阴极连接到一个可由多个 I/O 共享的公共 TVS。公共阳极/阴极连接到信号线。最后,下二极管阳极连接到 GND。