使用直通线，您可以进行简单的响应校准。

如果你测量包括芯片在内的电路的响应，并与直通线的响应进行比较，你可以很好地了解芯片本身的性能如何，而不受你使用的连接器和传输线的影响连接到它。

这种校准不如 SOLT 或 TRL 校准准确，但它比仅仅假设连接器和传输线完美且无损更好（如果您想知道芯片本身的响应）。

已添加.. 由于此 THRU CAL 轨道的用途存在一些混淆，因此我对它的使用方式进行了解释....

测试包括所有 s 参数的开路、短路和 50 欧姆终止。

^{模拟此电路- 使用CircuitLab创建的原理图}

这与您的 RF 设计之外的测试优惠券轨道相同。当您在 PCB 设计上指定阻抗并尝试正确选择它并且需要 5% 或 10% 时，您必须为此支付额外的 150 美元？

然后，电路板车间将这些轨道添加到您的轮廓之外，以使用时域反射计校准它们的电介质，如果工艺、材料和设计正确，它会给出与回波损耗相同的结果。这样他们就可以更正 D 代码大小以保证您的规格。首先是样品，然后是批量生产。这是由于介电公差 >10% 和薄轨道蚀刻公差。

所以添加了这条轨道，这样您就可以添加相同或类似的 SMA 部件，通过 Open short and thru 测试来“去嵌入”电路板错误并实现 IC 的预期性能。然后，您可以稍后在最终设计或生产中与此进行比较，就像 TDR 测试对阻抗轨道上的电路板工艺控制所做的那样。

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TRL 校准意味着 3 次测试；直通、开路、短路以标准化散射参数的设置。

如果测试夹具可以模拟对电路板 Vgs 控制和另一个逻辑电平的影响，则可以将双向开关控制到这 3 种状态中的每一种。

有了这些结果，该板或没有该 IC 的复制板可用于在同一用户设置区域中测试被测设备 (DUT) IC，以进行 AB 比较，而不会出现与未知测试夹具相关的未知错误。

回波损耗是匹配阻抗的关键函数，也是对通道增益或损耗的影响。

Hittite 设计的芯片（现为 Analog Devices）位于评估板或测试夹具上。它是一种 SPDT 开关，具有出色的 THRU 损耗和端口到端口隔离特性。为了评估 PCB 设计上的芯片，他们复制了要连接的连接器的焊盘设计，以比较开关的隔离度。即使 PCB 设计不理想，通过使用理想的 50 欧姆源和负载校准 THRU 端口，也可以断开输出并使用“标准”短接插头和开路插头来执行“测试卡”的所有散射参数”或“THRU CAL”跟踪，然后规范化或消除布局中的轻微错误，以测量芯片性能。

使用这些方法，可以预期 IC 中的隔离度为 50dB，回波损耗为 25dB，直通损耗为 0.5dB。否则，如果此 THRU CAL 或测试券。这提供了方便的 AB 比较，并允许专家消除董事会的影响。

这些是“去嵌入”测试图形或消除它对评估芯片的贡献的算法。

REFLECT MODE 相等 THRU MODE 相等 SciLab （软件）

有关如何消除 PCB 设计影响以评估 RF IC 能力而没有 PCB 设计轻微缺陷的更多示例，请参见此处

现代 VNA 具有响应存储器和半自动执行此操作的程序。