如何测量栅极电容?

电器工程 运算放大器 场效应管 测量 电容
2022-01-07 07:42:01

有没有一种有效的方法可以直接测量功率 MOSFET 的栅极电容,比如 IRF530N?

我的电路的行为方式表明有效栅极电容可能是数据表中引用的值的两倍或更多,这将通过降低运算放大器 \$R_O\$ 的频率来降低​​我的运算放大器稳定性+\$C_{iss}\$ 极点。

这是电路原理图,以防万一,但我真的只是对我可以连接的测试夹具的一般情况感兴趣,在那里弹出一个任意 TO-220 MOSFET 并从示波器轨迹或其他东西中计算有效电容像那样。

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有没有一种实用的方法可以在工作台上对 MOSFET 输入电容进行有用的测量?


结果报告

这两个答案都提供了关键见解。回想起来,我认为对我的直接问题的简短回答是:“我如何测量栅极电容?在栅极和漏极电压的许多不同组合下! ”:)

这代表了我的重要见解:MOSFET 没有单个电容。我认为您至少需要两张图表才能在描述范围方面有一个不错的开端,并且至少在一种情况下,电容可能远远超过引用的 \$C_{iss}\$ 值。

关于我的电路,我通过将 IRF530N 换成 IRFZ24N 进行了一些改进,IRFZ24N 的值不到引用的 \$C_{iss}\$ 值的一半。但是,虽然这克服了第一个不稳定性,但它启用的以下测试显示在更高电流下完全振荡。

我的结论是,我需要在运算放大器和 MOSFET 之间添加一个驱动级,为 MOSFET 输入电容提供非常低的有效电阻,并驱动它产生的极点远远超过运算放大器的 0dB 频率。原帖中没有提到我需要相当不错的速度,比如 1µs 阶跃响应,因此对运算放大器应用严厉的补偿以实现稳定性不是一个可行的选择;它只会牺牲太多带宽。

3个回答

MOSFET 的栅极电容是一个比很多人意识到的更复杂的话题。它在很大程度上取决于设备的操作条件。这是有道理的——我们所说的电容将栅极本身作为一个板,这是一个固定的物理结构,但另一个“板”不仅是附近的源极、漏极和衬底结构,还包括流动的电荷载流子在源漏通道中,它们的浓度变化很大。

要对此有所了解,请查看IRF530N 数据表中的图 6 (转载如下),该图显示了栅极电荷作为栅极-源极电压的函数。电容的定义是 \$\frac{\Delta 电荷}{\Delta 电压}\$,因此考虑到该图表的布局方式,有效栅极电容是曲线在任何给定点的斜率的倒数。

IRF530N 图6

\$C_{ISS}\$ 值是在 \$V_{GS}\$ = 0V 处测量的,因此它对应于图表左下角的斜率。但请注意图表在阈值电压附近是如何变平的——这个减小的斜率表明在该工作点有更大的有效电容(大约 10 倍)更重要的是,这正是您的电流调节器电路运行的点。

因此,要全面表征您的运算放大器所看到的负载电容,您需要以图 13 所示的方式测试 MOSFET,并在栅极和漏极上使用合适的偏置电压。

您可以将源极接地,将漏极连接到所需的偏置电压(使用一个大电容器 - 可能是 1uF 陶瓷),然后使用电池供电的仪表或 LCR 电桥直接测量栅极电容。Vishay 数据表显示 30V 时约为 0.7nF,2V Vds 时约为 1nF(对于 Ciss)。

如果你没有 C 表,可以通过一个合适的电阻(可能是 1K)将一个相当小的值(可能是 0.5 伏)方波施加到栅极,你可以观察到 1/e 的充电/放电时间。示波器(x10 探头),然后减去示波器探头电容。

这个答案没有解决如何测量 FET \$C_{\text{iss}}\$,因为这样做没有真正的价值。由于电容是一个非常重要的 FET 参数,因此制造商在每个数据表上都提供了几乎在所有情况下都具有确定性的电容数据。(如果您发现数据表中没有提供完整的电容数据,则不要使用该部分。)鉴于数据表中的数据,尝试自己测量栅极电容有点像尝试拍摄优胜美地的照片安塞尔·亚当斯 (Ansel Adams) 会递给你他拍的那张照片。

值得了解的是\$C_{\text{iss}}\$的特性、它们的含义以及它们如何受电路拓扑的影响。

您已经知道的有关\$C_{\text{iss}}\$的事实

  • \$C_{\text{iss}}\$ = \$C_{\text{gs}}\$ + \$C_{\text{gd}}\$
  • \$C_{\text{gs}}\$几乎是一个恒定值,主要与工作电压无关。
  • \$C_{\text{gs}}\$与米勒效应无关,也与米勒效应无关。
  • \$C_{\text{gd}}\$强烈地反向依赖于\$V_{\text{ds}}\$,并且可以在整个工作电压范围内轻松改变一个数量级。
  • \$C_{\text{gd}}\$是米勒效应的寄生原因。

对这些看似简单但微妙的事实的解释可能会很棘手和令人困惑。

关于\$C_{\text{iss}}\$的狂野和未经证实的说法——对于不耐烦的人

\$C_{\text{iss}}\$的有效值,它是如何体现的,取决于电路拓扑,或者 FET 连接的方式和内容。

  • 当 FET 连接在源极阻抗但漏极没有阻抗的电路中时,这意味着漏极连接到一个基本理想的电压,\$C_{\text{iss}}\$被最小化。\$C_{\text{gs}}\$将实际上消失,其值除以 FET 跨导\$g_{\text{fs}}\$这使得\$C_{\text{gd}}\$支配\$C_{\text{iss}}\$的表观价值。你对这种说法持怀疑态度吗?很好,但不要担心以后会证明它是真的。

  • 当 FET 在漏极阻抗和源极阻抗为零的电路中连接时,\$C_{\text{iss}}\$最大化。\$C_{\text{gs}}\$的完整值将很明显,加上\$C_{\text{gd}}\$将乘以\$g_{\text{fs}}\$(和漏极阻抗) 。因此\$C_{\text{gd}}\$将支配\$C_{\text{iss}}\$(再次),但这一次,取决于漏极电路中阻抗的性质,可能会令人难以置信大量的。你好米勒高原!

当然,第二个声明描述了硬开关 FET 最常见的用例,这也是 Dave Tweed 在他的回答中谈到的。这是一个如此常见的用例,制造商普遍发布了它的栅极电荷图表,以及用于测试和评估它的电路。它最终成为 \$C_{\text{iss}}\$的最坏可能的最大情况。

对您来说好消息是,如果您准确地绘制了原理图,则不必担心米勒高原,因为您有第一个索赔的情况,其中\$C_{\text{iss}}\ $ .

一些定量细节

让我们为您的电路中连接的 FET推导出\$C_{\text{iss}}\$的方程。对 MOSFET 使用小信号交流模型,例如 Sze 的 6 元件模型:

示意图

模拟此电路- 使用CircuitLab创建的原理图

在这里,我丢弃了\$C_{\text{ds}}\$\$C_{\text{bs}}\$(体电容)和 \$R_{\text{ds}}\的元素$(漏源泄漏),因为这里不需要它们,只会使事情复杂化。查找\$Z_g\$

\$\frac{V_g}{I_g}\$ = \$\frac{g_{\text{fs}} R_{\text{sense}}+1}{s \left(C_{\text{gd}} \left(g_{\text{fs}} R_{\text{sense}}+1\right)+C_{\text{gs}}\right)}\$ \$\frac{\frac{s C_{ \text{gs}} R_{\text{sense}}}{g_{\text{fs}} R_{\text{sense}}+1}+1}{\frac{\text{Cgs} s C_{ \text{gd}} R_{\text{sense}}}{C_{\text{gd}} \left(g_{\text{fs}} R_{\text{sense}}+1\right)+C_ {\文本{gs}}}+1}\$

现在,在频率远高于 100 MHz 之前,第二个小数项没有任何作用,因此我们将其视为单位。这将留下第一个小数项,即积分项,即电容阻抗。然后重新排列得到与拓扑匹配的有效\$C_{\text{iss}}\$

\$C_{\text{iss_eff}}\$ = \$\frac{C_{\text{gd}} \left(g_{\text{fs}} R_{\text{sense}}+1\right) +C_{\text{gs}}}{g_{\text{fs}} R_{\text{sense}}+1}\$\$\frac{C_{\text{gs}}}{g_{ \text{fs}} R_{\text{sense}}+1}+C_{\text{gd}}\$

请注意,这里\$C_{\text{gs}}\$除以\$g{\text{fs}}\$(和 \$R_{\text{sense}}\$),因此被跨导遮蔽, 并且 \$C_{\text{gd}}\$未经修改添加。此外,如果\$R_{\text{sense}}\$ = 0,则\$C_{\text{iss}}\$ = \$C_{\text{gs}}\$ + \$C_{\text {gd}}\$

对于 IRF530N,\$V_{\text{ds}}\$ = 25V,\$C_{\text{gs}}\$ = 900pF,\$C_{\text{gd}}\$ = 20pF,\ $g_{\text{fs}}\$ = 20S:\$C_{\text{iss_eff}}\$ = 63pF。负载为 63pF 的 LM358 以大约\$35^{\circ }\$相位裕度结束......不是振荡的,但相当响亮。

但是,如果 \$V_{\text{ds}}\$ where 下降到 3V,\$C_{\text{gd}}\$将增加到 ~200pF(数据表中的图 5),并且\$C_{ \text{iss_eff}}\$增加到 243pF。当使用 LM358 OpAmp 时,在交叉频率下开环输出阻抗约为 2kOhms,结果证明这是一个问题。

让我们看看响应。我将在这里使用 Nichols 图,因为它会同时显示开环和闭环响应。

在此处输入图像描述

在这里,直线网格是开环,而等高线显示闭环(绿色等高线表示 dB 幅度,灰色等高线表示相位)。蓝色曲线是25V 的\$V_{\text{ds}}\$,在交叉点(红点处——502kHz),相位裕度确实是\$35^{\circ }\$,并且闭合环路峰值约为 5dB。

紫色曲线为3V 的\$V_{\text{ds}}\$,对应的开环相位裕度为 ~ \$-3^{\circ }\$对于闭环,看看尼科尔斯山的上升,曲线几乎钉住了理想情况下对应于无限峰值的峰值。当然这不会发生,但系统会不稳定。

毫不奇怪,这里的主要问题是 LM358 的开环输出阻抗。即使使用具有最小表达式\$C_{\text{iss_eff}}\$的 FET 电路拓扑, LM358 也不够用。开环阻抗为 50 欧姆或更低且相位裕度大于\$75^{\circ }\$的放大器可能会解决稳定性问题。