我正在处理一个非常不稳定的电机故障（我不是设计师）。我们有一个由功率 MOSFET 切换的绕线电枢。这些由 FET 图腾柱型 FET 驱动器驱动。因此，当驱动器关闭时，功率 FET 的栅极处于浮动状态。是的，我知道。糟糕的设计选择。我只是在收拾烂摊子。

有一个可控硅和驱动电路，由电机定子侧的微输出控制。当您插入电机时，驱动线处于浮动状态，因为微型端口处于三态，直到启动完成。由于该端口线进入 AND 门并处于浮动状态，因此您最终会在其上获得大约 5 个 AC 周期，其幅度足以触发门和三端双向可控硅开关。这会将大约 3-5 个半周期的线路放在定子上，峰值高达 100A，具体取决于源阻抗。对。另一个设计错误 - 它应该被拉下来。

问题 - 这不会经常发生，功率 MOSFET 故障也不会发生。在数百个电机中，我们有三个因功率 FET 漏极和栅极到源极短路而发生故障。问题 - 我正在尝试确定这一系列电流尖峰（确实会在电枢上感应电压 - 匝数比为 1:1）是否可能是可疑的，因为功率 MOSFET 电路设计不佳。MOSFET 正好穿过电枢绕组。当电机发生故障时，它在运行过程中不会发生故障。一旦插入，它似乎就失败了。我的证据都是间接的——到目前为止，我一直无法强迫失败。但是插件的巨大峰值，失败的罕见性以及复制它的难度似乎都指向了这一点。如果我走错了路，我需要知道并知道为什么。这似乎可能会损坏 FET，但我

目前我正在循环几个电机，使用 PLC 来监视它们。计划是循环直到失败，应用设计更正并再次运行。除非我得到一闪而过的天才。