这个问题与物理学接壤，但这是我感兴趣的信号方面，所以我希望这是正确的论坛。
我非常熟悉基于 CCD 的光谱仪中的仪器噪声源及其信号特性。我开始意识到了解噪声源对于有效减轻噪声源的重要性。
现在我对使用干涉仪进行测量的 FTIR 产生了兴趣，并想了解测量误差如何在干涉图中表现出来，以及它们在 FT 之后如何表现出来。
我怀疑由于测量技术行为引起的变化将与 CCD 仪器共享某些方面，但也会呈现一些非常不同的来源。例如，光谱仪-CCD 系统会受到像素间散粒噪声、固定模式响应、读出噪声、光学光谱（空白信号）、暗信号、振动、对准等的影响。
以下如何在干涉图和 FT 中出现？
由于我不熟悉与干涉仪相关的技术误差，我确信我没有预料到某些来源，所以请告诉我由于技术引起的任何其他变化来源（不是样品或样品技术接口）
我尝试了一些搜索，但没有找到任何有用的资源，所以任何好的资源都将不胜感激
您在介绍问题的背景和上下文方面做得非常出色，并且您列出的错误源也很好。但 FTIR 还存在一些其他问题，特别是考虑到 IR 检测器与 UV-Vis 检测器相比 SNR 性能相对较差。所以有两件事。首先，我推荐这本书：PR Griffiths, JA de Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry, 2nd Ed., Wiley-Interscience, John Wiley & Sons, Inc., NY, ©2007。
其次，当我使用我的光学微积分软件模拟 FTIR 时，我通常包括光源温度波动、移动镜上的抖动，当然还有检测器和前置放大器噪声。接下来的几张图显示了仿真模型（我所说的 3 个噪声源），它看起来有点像框图，但实际上是仿真程序，以及 400 到 4000 波数范围内的丙烯酸乙酯的一些结果。图 1 如下：
上图为图1，以丙烯酸乙酯为供试品的FTIR模拟程序。仿真条件如图 1 所示。
图 2 是生成的十张 16k 干涉图中的最后一张。在我的 2006 iMac 24 上，每个干涉图大约需要 2.5 分钟。（在基于 Windows 的现代 PC 上会快得多，但速度并不是一切，我目前正在推迟购买新 PC。）图 2 如下：
下图（图 3）是干涉图中心的放大图：
现在图 4 显示了丙烯酸乙酯测试物质的伪透射率：
那么图 5 显示了背景的伪透射率：
最后，将两个伪透射率相除并取负对数，得到丙烯酸乙酯的吸收光谱，如图 6 所示：
我的软件在 PC（和我真正的旧 Mac）上运行，并且是免费的，带有完整的注释源代码。然而，它是一个名为 ExtendSim® 的商业模拟程序的附加组件（我与该程序没有经济关系：我只是一个非常早期的用户）。
如果我能找到任何特别讨论 FTIR 考虑因素的相关且详细的论文，我将编辑此答案以包含它们。它也会使我受益，即使我以前做的光谱不在红外光谱中。