如果我有一个测量信号, 真实信号, 和一个卷积矩阵这是一个 Toeplitz 但不是循环矩阵,我可以将卷积写为
但是,我想使用傅里叶变换的对角化系数来分析系统。下面给出的重新公式通常用于提供一种快速计算的方法:
在哪里是一个循环矩阵,其中 Toeplitz 矩阵嵌入,使用额外的矩阵来自的值.
的诊断值可以通过与离散傅里叶变换矩阵相乘来获得。但是这些值是否与解释原始系统的行为相关,- 例如,用于为原始系统构建维纳滤波器?
如果我有一个测量信号, 真实信号, 和一个卷积矩阵这是一个 Toeplitz 但不是循环矩阵,我可以将卷积写为
但是,我想使用傅里叶变换的对角化系数来分析系统。下面给出的重新公式通常用于提供一种快速计算的方法:
的诊断值可以通过与离散傅里叶变换矩阵相乘来获得。但是这些值是否与解释原始系统的行为相关,- 例如,用于为原始系统构建维纳滤波器?
如果我理解你的问题,那么答案就在于线性卷积和循环卷积的等价性——线性卷积是通过与 toeplitz 矩阵相乘来实现的,而循环卷积是通过与循环矩阵相乘来实现的。
如果您有一个长度为 N 的信号和长度为 M 的滤波器脉冲响应,如果您用零填充信号和滤波器到长度 N+M-1,则循环和线性卷积是等效的 - 也就是说,您可以使用 DFT 实现线性卷积. 您在上面用零填充 x ,并且可能零的数量满足长度 N+M-1 的要求。然后以矩阵形式,DFT矩阵将对相应的卷积算子进行对角化。
希望这会有所帮助 - 我现在时间紧迫,无法提供更详细的解释。