[好问题,这让我重新思考了我认为自然的东西。我会将它们纳入未来的讲座]
对高通(和低通)进行下采样可为您提供严格采样的滤波器组,换句话说,不是多余的。临界采样是在某些应用(如压缩)中以及在寻找正交变换的情况下要付出的代价。所以是的,这是一个限制:应该注意混叠,以及设计的过滤器的不完美特性。是的,滤波器组系数也会受到折叠/镜像的影响。如果要分析这些系数,就好像它们是真正的信号一样,例如使用线性滤波器或傅里叶变换,这可能会引起一些担忧。
但请记住,DFT 也可以解释为滤波器组,按信号长度(加上零填充)进行下采样。在这种解释中(如果错了,请纠正我),每个 DFT 系数都变成一个单一的“样本”,被基带拒绝。我理解您的担忧,但很少将线性滤波器应用于高通子带。相反,通常使用非线性滤波器和选择工具。你会不加注意地对其进行线性滤波或傅立叶分析吗?当然,如果你保留这个系数,将其他系数设置为零,然后逆 DFT,你会得到一个信号,一个正弦,然后你可以对它进行传统的处理。
这同样适用于 FIR(甚至是 IIR)滤波器组。在这里,下采样要小得多。并且该系列的系数更长。但在许多情况下,这些系数本身并不是“信号”。很多时候,它们不是“线性”处理的:它们被取消、缩小、阈值化。由于滤波器的相对局部性(与 DFT 相反),大部分工作都集中在幅度和位置上。
如果你想保持线性解释,最好的可能是将其他系数设置为并使用逆 FB 进行重构。然后,你又得到了一个真实的信号,你可以安全地进行傅立叶、滤波等。0
但并非所有小波表示都这样做:“我注意到所有视觉表示”和“为什么每个表示都坚持对高通子带进行下采样?”。情况并非总是如此,并且您拥有大量过采样、移位不变等滤波器组,不仅是二元的,而且做得更好。
例如,您可以避免在高通(以及低通)上进行下采样,最终得到更多冗余的表示,这对于某些处理情况可能很有用。然后,您可以更正常地处理子带。
对于(过采样与否)滤波器组的一些(个人)背景,我可以说的内容:在合成过采样复杂滤波器组的 1D 优化中,在 2D A Panorama on Multiscale Geometric Representations中。