算法在非等距时间内的响应

信息处理 离散信号 冲动反应 控制系统
2022-02-09 22:52:59

我们正在研究测试控制算法的方法。该算法具有输入数据的非等距跟踪(即并非每个样本都是有效的,我们知道这一点),并且应该输出一系列校正因子。

在一定的频率下,它应该对劣化的光源进行校正。

有没有办法对算法的传递函数进行黑盒测试?我遇到了麻烦,尤其是它不是等距的。

测试的目标是对算法的行为有一个清晰的认识:

  • 延迟/相位响应
  • 共振
  • 频率响应

所以我实际上梦想着一种“扫描正弦”测试,或脉冲响应,或类似的东西,但我对非等距信号的可行性有点迷失了。

1个回答

我会尝试坚持使用传统的离散时间控制方法。试图在控制算法中处理丢失的样本会使事情变得复杂,如果不处理它们,控制输出将不会很稳定。像这样的东西可以在你的应用程序中工作吗?

这里的假设是您可以检测丢失的样本并使用插值算法来填补空白,然后再将信号应用于控制器/补偿器。“控制信号”输入是一个参考,可用于设置光源的正常工作强度。

我将使用正常控制信号(脉冲、步进、扫描正弦,均采用均匀采样)来表征传递函数。然后,我将使用一些与丢失样本的特征相匹配的脉冲变化来模拟真实信号(来自灯传感器)。通过脉冲变化,我的意思是在信号中添加小的误差量来表示来自插值器的误差。测试在这种“脉冲噪声”的情况下传递函数的调节程度。

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