我正在开发一个电路来充当基准测试电源的电子负载。关于如何测试此电路的较早问题收到了几个非常有用的答案，可以在此处找到：如何测试运算放大器稳定性？. 这个问题是关于如何解释我的模拟和测试结果。

这是在面包板上模拟和测试的电路原理图：

LTSpice 生成的图表明该电路相当稳定。5V 上升时有 1mV 过冲，在一个周期内解决。如果不放大一点，几乎看不到它。

这是使用面包板电路上的示波器进行的相同测试。电压上升要小得多，周期较长，但测试是一样的；将方波馈入运算放大器的非反相 (+) 输入。

正如您所看到的，存在明显的过冲，可能为 20%，然后在高信号持续时间内呈指数衰减至稳定振荡，并且在下降时有一些轻微的过冲。低信号的高度只是本底噪声（约 8mv）。这与电路关闭时相同。

这是面包板构建的样子：

MOSFET 位于散热器顶部，由黄色、红色和黑色导线连接；分别为栅极、漏极和源极。通向小型原型板的红线和黑线分别为 IN+ 和 IN-，连接到面包板香蕉插孔，以避免功率级电流通过面包板。测试中加载的电源是密封铅酸 (SLA) 电池，以避免电源本身的任何不稳定。银色跳线是从我的函数发生器注入方波的地方。左下方的电阻器、二极管等是手动（基于电位器）负载电平设置子电路的一部分，未连接。

我的主要问题是：为什么 LTSpice 不能预测这种显着的不稳定性？如果这样做会非常方便，因为这样我就可以模拟我的补偿网络。就目前而言，我只需要插入一堆不同的值并重新测试。

我的主要假设是 IRF540N 的栅极电容没有在 SPICE 模型中建模，我正在驱动一个未考虑的 ~2nF 容性负载。我认为这不太正确，因为我看到模型（http://www.irf.com/product-info/models/SPICE/irf540n.spi）中的电容看起来是正确的数量级。

有什么方法可以让模拟预测这种不稳定性，以便我还可以调整我的补偿网络值？

结果报告：

好吧，事实证明，我用于 LM358 运算放大器的 LTspice 模型已经很老了，而且还不够复杂，无法正确模拟频率响应。National Semi 更新到相对较新的版本并没有预测到振荡，但清楚地显示了 20% 的超调，这给了我一些工作的余地。我还更改了脉冲峰值电压以匹配我的面包板测试，这使得过冲更容易看到：

基于这个“反馈”，我从一致推荐的补偿方法开始，我认为这是主极点补偿的一个例子。我不确定栅极电阻器是该方案的一部分还是第二个补偿方案，但事实证明它对我来说至关重要。以下是经过大量试验和错误后我最终得出的值：

这产生了一个非常稳定的波形，尽管如果可以的话，我想让上升和​​下降得更尖锐一些，以更好地测试我将在这个负载下测试的电源的频率响应。我稍后会解决这个问题。

然后我在面包板上使用了新值，你瞧，我得到了这个：

我对此非常兴奋：）

特别是因为为了适应新组件，我使面包板寄生效应变得更糟而不是更好：

无论如何，这一个很愉快地结束了，希望这有助于其他在搜索中找到它的人。我知道我会撕掉我留下的小头发，试图通过将不同的组件插入面包板来拨入这些值:)