在这种情况下，泄漏规格为 0.01CV（或 3\$\mu\$A）是额定电压和额定电容的乘积，而不是外加电压。当然，3\$\mu\$A 的意思是“以较高者为准”（也称为“更糟”）。因此，如果您的电容额定值为 10V/100\$\mu\$F，则泄漏量将小于 10\$\mu\$A。

SP 的数据表解释规则#1 是：

如果一个规范可以用两种方式解释，一种比另一种更糟糕，那么更糟糕的就是正确的方式。

电解帽的实际泄漏量可能远小于额定值或略低。较高的额定电压电容器在远低于额定电压下运行时可能具有较低的泄漏，但不能保证，如果电容器在低于额定电压下连续运行，它也不一定会持续。

当然，（相对）较长的时间是因为初始泄漏可能比规格高很多，并且可能需要一些时间才能降至保证值。这是因为电解盖中的电介质实际上是蚀刻铝板上非常非常薄的氧化层，它会产生针孔等，当施加电压时会被阳极氧化掉。

以下是United Chemicon对泄漏的看法：

漏电流 (DCL)

电容器的电介质具有非常高的电阻，可防止直流电流的流动。但是，电介质中的某些区域允许少量电流通过，称为漏电流。允许电流流动的区域是由于非常小的不均匀的箔杂质位点，并且在这些杂质上形成的电介质不会产生牢固的键合。当电容器暴露在高直流电压或高温下时，这些键会断裂，泄漏电流会增加。漏电流还由以下因素决定：

1. 电容值
2. 外加电压与额定电压
3. 以前的历史

漏电流与电容成正比，并随着施加电压的降低而降低。如果电容器在长时间没有施加电压的情况下处于高温下，则可能会发生氧化物电介质的某些退化，这将导致更高的漏电流。通常这种损坏会在重新施加电压时修复

这种类型的强烈“成型”效果在现代零件中相对不常见，并且在过去零件在使用前放置一段时间时似乎更经常发生。也许现代电解液控制得更好或更纯净，或者有防腐添加剂。

编辑：注意@Dave 的注释，即 0.01 参数的单位必须是 1/s。

泄漏电流取决于板的面积（因此与电容成正比），或与板间距成反比（与电容成正比）和施加的电压，所以是的，泄漏电流与 CV 成正比。

电解电容器有一个有趣的“长时间常数”，这与极板的机械运动和电解液中的极化效应有关。最有效的演示方法是给一个大电解电容器充电，将其放置几分钟，然后快速放电，然后在接下来的几分钟内使用高阻抗 DVM 观察其电压。电压从 0 开始上升，并且可以达到原始充电电压的惊人的大部分。这个电压恢复实验是值得做的，即使只是为了证明电解电容器的非理想性。

这意味着，如果我们试图测量大型电解液中的低泄漏电流，它将被电压发生任何变化后的电压恢复效应所淹没。因此，指定的 2 分钟延迟，制造商可能已发现足以消除电压恢复作为测量误差的重要来源。