在商业消费级零件中？没有。它在工厂进行了测试，可能有一个短暂的“老化”过程以防止早期故障。从那时起，任何永久性故障都会杀死设备。幸运的是，如果设备保持在温度参数范围内，这种情况通常不会发生多年。

对于军事/航空系统，有多种冗余系统可以检测故障并从故障中恢复。要么通过称为“锁步执行”的过程，要么通过简单地拥有多台计算机，如航天飞机著名的五台飞行计算机。（阿波罗计划用一台非冗余计算机登月！）

还有 ECC RAM，可用于服务器级系统，可以检测和纠正单位错误。

太笼统了

晶体管可能位于您不使用的部分中，因此您永远不会知道。

它可能在您使用的部分中，但故障条件似乎仍然有效，只需要在那里一个零，它失败到零，这很好，直到可能使用该晶体管的固件升级时我才注意到它不同。

或者它可能在您使用的地方，并且故障可能导致许多可能的问题，这些问题可能会以多种方式表现出来。当然不可能在这里扩展，因为我们不知道您使用的是什么部分，以及几乎无法衡量的可能结果数量有多大，只是沧海一粟，并没有开始涵盖假设的数量。即使在航空航天领域，一般也不值得谈论。

对于COTS系统，没有任何东西可以保护您；您可能拥有涵盖密集或有风险的东西的软件，例如 RAM，一种POST内存测试之类的东西。但是，如果发生故障的晶体管正如您在处理器内核中所建议的那样，那么您就有了一块砖头，再次落入大海，无法进行涵盖可能性并正确报告它们的 POST，甚至不值得谈论它。你把东西扔了，再拿一个。现在，在制造诸如 RAM 之类的部件时，风险较高的东西可能会在芯片上有替代块，可以在使用BIST或其他屏幕测试时融合。同样，有些产品是从其他产品衍生而来的，回到过去80486SX与80486DX. 如果浮点单元在芯片制造测试期间出现故障，您可以熔断保险丝，将其从潜在的 DX 变成 SX，然后以这种方式出售。

芯片屏幕寻找并根据经验覆盖超过 99.99% 的故障。根据产品的不同，预计会有成千上万或成千上万的产品在未来出现故障。就是这样。

航空航天，尤其是抗辐射，人字拖是或曾经是当你周围还有知道如何制造可靠东西的人（他们现在大多已经退休）时，如果一个位出现故障或经历一个位故障或经历单项赛事爆冷（这是三重投票的主要原因）然后其他两个主导投票。你可以争辩说你得到了万一失败的论点。但是您不会对所有组合逻辑都投三票；如果它受到打击，它应该在锁定到下一个触发器/位之前稳定下来。您还需要更强大的晶体管来处理单事件扰动，并且您还需要更多其他材料来处理总剂量，以在整个部件因暴露而死亡之前延长部件的使用寿命。数十年的经验（都输给了在一次性时代长大的年轻人，他们制造太空垃圾而不是制造一个永远有效的垃圾）。单个晶体管故障不是主要问题，单个事件扰乱和闩锁是（如果不处理可能/将导致破坏）总剂量等。单点故障和 MTBF 非常重要；MTBF 应该比任务寿命长，并且任何单点故障都应该能够在没有检测和解决的情况下进行。一次出现两个故障通常是无法解决的（沧海一粟）。

使用 COTS，您不必担心单个晶体管出现故障；这完全是关于平均值/统计数据。你从经验开始，反正没有那么多代工厂，他们知道自己在做什么。您在设计、布局、设计验证、测试等方面积累了数十年的经验。您绝对期望成品率低于 100%，然后在包装和交付的零件中，您预计其中一定比例的零件会在现场失败. 如果您的客户期望 COTS 质量和价格，但具有容错性或军用或航空级零件，您只需要告知客户他们要求的是价格高出一个数量级，带宽慢一个数量级/处理能力。以及一个数量级更长的交货时间。

RAM 密集是一个重点关注的领域，不是针对单个晶体管故障，而是针对单个事件翻转，一位翻转。因此使用ECC / EDAC，正如在制造中提到的那样，可能有一个 BIST 和一个可以融合的备用存储库。对于闪存和/或硬盘驱动器之类的东西，它们很容易发生故障，因此在用户的视野之外可能会有额外的可以标记为坏的银行/扇区和其他交换。RAM 可以，但通常不是因为您不使用非易失性存储的方式使用 RAM，而是使用DIMM例如，如果/当它们失败时让用户替换它们。通常就像用于升级或配置选择的处理器插槽一样，而不是因为与板上的其他组件相比，RAM 发生故障的速度非常快。

这是一个统计游戏。任何一个晶体管都可能产生严重影响（可能在程序计数器增量器中）、对性能的影响（比如缓存线永远不会命中）或用户体验下降（卡住像素或类似情况）。或者故障可能在测试逻辑中，因此它对正常操作是不可见的。

对于某些应用，这些随机故障只会影响设备的使用寿命（电池故障或撞击是更大的风险）。瞬态故障与永久性硬件故障一样重要。

服务器系统需要能够检测单个节点的生命周期结束，安全关键系统更有可能采用检测和冗余——但是观察较少的终端故障通常是困难的。将此与磁性 HDD 形成对比，其中通常可以在灾难性故障点之前测量纠错率（和其他指标）。

详尽的自检非常耗时 - 请参阅http://www.memtest86.com/以获取比测试处理器更简单的问题示例。