是的他们可以。

如果设计不当，CMOS IC 特别容易受到闩锁条件的影响，其中一个或多个 FET 中的本征体二极管开始像晶闸管一样有效地发挥作用，并成为 VCC 和 GND 电源之间的短路 (*)。即使设计得当，这种影响仍然可能在某些条件下发生。

过电流造成的热损坏（由于设计错误、闭锁条件等）会熔化设备内的精密走线并导致开路和潜在的短路 - 例如，如果熔融金属在其他走线上凝固（请记住它们很小而且靠得很近！）。这种烧断的迹线可能会导致 CMOS 对中的 PMOS 或 NMOS 永久开启（例如，如果注入的电荷留在现在断开的栅极上），这意味着当另一半对 CMOS 开启时电源短路。

过电压会导致用于 MOSFET 栅极（或金属布线层之间）的非常薄的氧化层击穿并导致短路。类似的效果也可能发生在过压导致击穿条件的二极管上（相关问题）——这在 IO 引脚上的 ESD 保护二极管暴露于​​高压放电时尤其明显。

(*) 这种闩锁通常可以通过完全关闭设备来结束

是的，这是可能的。

想象一下 IC 的某些引脚有钳位二极管进行保护。如果您反向应用电源，那么这些二极管会短路，最终您的 IC 的 Vcc 和 GND 引脚会短路。

PS：如果您在组装好的 PCB 上测量此 Vcc-GND 短路，那么也许您还应该检查陶瓷电容器。