我有一个信号$3\textrm{ MHz}$. 采样它的 ADC 的速率为$1.5\mu s$. 所以一个完整的$T$的信号是$0.3\mu s$，我只能对每个采样$1.5\mu s$. 这听起来还不够，但我不需要重建它，而是随着时间的推移从它创建一个包络检测器，基于可以说$1000T$（句号）。

所以，过$1000$时期$3\textrm{ MHz}$， 我会有：$300 \mu s/1.5 \mu s=200 \textrm{ samples}$. 从这些$200$样本，我需要创建一些包络检测器，或者继续曲线，然后检查它是否有一些大幅度的变化。

1. 我如何选择在哪里对输入信号进行采样，以便我可以获得它的“正确点”——主要是它的最大值，我的采样率比信号慢得多？
2. 我应该使用移动平均线来获得这条曲线吗？
3. 是否有另一种好方法可以期待更多的时间？（$>1000$)